DFT（テスト容易化設計）とは？でぃーえふてぃー
DFT（テスト容易化設計）とは、製造後のテストを実施しやすくするために、あらかじめテスト用の構造を回路へ組み込む設計手法。内部フリップフロップを直列につないで外部から値を出し入れするスキャンパス、回路自身がテストを行うBIST（組込み自己テスト）などがある。
最終更新：2026-10-07
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スキャンパスにより、内部状態を直接設定できるため、テストパターンの生成と故障箇所の特定が容易になる。
試験での引っ掛け
テスト回路の追加は面積と動作速度のオーバヘッドを伴う。品質とコストのトレードオフになる。
関連用語
出典・参考
公式シラバスの1 基礎理論 ＞ 5. 計測・制御に関する理論 ＞ (1) 信号処理に掲載されている用語です。
解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。