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JTAGとは?じぇいたぐ

JTAGとは、LSIのピン近傍に直列接続したシフトレジスタ(バウンダリスキャンセル)を通じて、外部から入出力の値を設定・観測できるようにするテスト用インタフェース規格。基板上のはんだ付け不良や配線の断線・短絡を、テスト用の物理的な探針なしに検査できる。近年はチップ内蔵デバッグ機能の操作口としても使われる。

最終更新:2026-10-07

試験情報

高度試験・午前I(全区分共通)の頻出用語/午前I(全区分共通)

別名:IEEE 1149.1、バウンダリスキャン

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具体例

JTAG経由でCPUのブレークポイント設定、レジスタ・メモリの参照、フラッシュ書込みを行う。

試験での引っ掛け

本来の目的は基板実装後のテスト(バウンダリスキャンテスト)。デバッグ用途は後から広まった応用。

関連用語

解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。

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試験での特徴
  • 分野:午前I(全区分共通)
  • 本来の目的は基板実装後のテスト(バウンダリスキャンテスト)。