バウンダリスキャンテストとは？ばうんだりすきゃんてすと
バウンダリスキャンテストとは、基板に実装されたLSIのピン周辺に組み込んだシフトレジスタ経由で信号値を設定・観測し、はんだ付け不良や配線の断線・短絡を検出するテスト手法。JTAG（IEEE 1149.1）として標準化されている。
最終更新：2026-10-07
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BGAのように物理的に探針を当てられないパッケージでも、実装不良を電気的に検査できる。
試験での引っ掛け
見つかるのは基板実装の不良（はんだ不良・断線・短絡）であって、LSI内部の論理設計の誤りやソフトウェアのバグではない。LSI内部のフリップフロップを直列につないで内部回路を試験するスキャンパステストとは、対象がチップの外か中かで分かれる。
関連用語
出典・参考
解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。