バウンダリスキャンテストとは？

バウンダリスキャンテストとは、基板に実装されたLSIのピン周辺に組み込んだシフトレジスタ経由で信号値を設定・観測し、はんだ付け不良や配線の断線・短絡を検出するテスト手法。JTAG（IEEE 1149.1）として標準化されている。

エンベデッドシステムスペシャリスト試験の過去問では1回出題されています。

ばうんだりすきゃんてすと

エンベデッドシステムスペシャリスト試験の頻出用語／午前II

バウンダリスキャンテストの意味

基板に実装されたLSIのピン周辺に組み込んだシフトレジスタ経由で信号値を設定・観測し、はんだ付け不良や配線の断線・短絡を検出するテスト手法。JTAG（IEEE 1149.1）として標準化されている。

BGAのように物理的に探針を当てられないパッケージでも、実装不良を電気的に検査できる。

見つかるのは基板実装の不良（はんだ不良・断線・短絡）であって、LSI内部の論理設計の誤りやソフトウェアのバグではない。LSI内部のフリップフロップを直列につないで内部回路を試験するスキャンパステストとは、対象がチップの外か中かで分かれる。

JTAG（IEEE 1149.1）の説明として、適切なものはどれか。
正解：バウンダリスキャンテストの標準方式
要点：JTAGはバウンダリスキャンテストの標準インタフェース規格
JTAG（IEEE 1149.1）は、LSIの各入出力ピンの内側にバウンダリスキャンセルと呼ばれるレジスタを並べ、TDI/TDO/TCK/TMSの少数の信号でシフトレジスタとして直列に読み書きする規格である。これにより、基板に実装した後でもピンの値を外部から設定・観測でき、はんだ付け不良や配線の断線・短絡を検査できる。現在ではデバッグ用インタフェースとしても広く使われている。
出典：平成30年度春期エンベデッドシステムスペシャリスト試験 am2 問4（IPA）

最終更新：2026-08-25／解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。