JTAG（IEEE 1149.1）の説明として、適切なものはどれか。

エンベデッドシステムスペシャリスト試験／2018年度春期午前Ⅱ 問4／入出力 / デバッグ・テスト

選択肢

ア組合せ回路のテスト生成方式
イテストプローブを用いた導通テストの方法
ウバウンダリスキャンテストの標準方式
エビルトインセルフテストの方式

正解と解説

正解：ウバウンダリスキャンテストの標準方式

JTAG（IEEE 1149.1）は、LSIの各入出力ピンの内側にバウンダリスキャンセルと呼ばれるレジスタを並べ、TDI/TDO/TCK/TMSの少数の信号でシフトレジスタとして直列に読み書きする規格である。これにより、基板に実装した後でもピンの値を外部から設定・観測でき、はんだ付け不良や配線の断線・短絡を検査できる。現在ではデバッグ用インタフェースとしても広く使われている。

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選択肢ごとの解説

ア組合せ回路のテストパターン生成アルゴリズム（ATPGなど）はJTAGの規定範囲ではない。
イプローブを当てる方式はインサーキットテスタの手法で、JTAGはプローブなしで検査できる点が特徴。
ウ正解。バウンダリスキャンテストのための標準インタフェース規格である。
エBISTはチップ内部にテスト回路を組み込む手法で、JTAGとは別の概念（起動にJTAGを使う場合はあるが定義ではない）。

出典：平成30年度春期エンベデッドシステムスペシャリスト試験午前Ⅱ 問4（IPA）原本の紙面を見る（IPA 問題冊子より）

この問題に出た用語

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出典・参考

最終更新：2026-10-06／解説・選択肢ごとの解説は資格暗記が独自に作成しています。問題文と選択肢の出典は上記のとおりです。