DFT（テスト容易化設計）とは？でぃーえふてぃー
DFT（テスト容易化設計）とは、製造後のテストをやりやすくするために、テスト専用の構造をあらかじめ回路へ組み込んでおく設計手法。内部のフリップフロップを直列につないで外部から値を出し入れするスキャンパス、回路自身がパターン生成と判定を行うBIST（組込み自己テスト）、基板上の接続を検査するバウンダリスキャンなどがある。
最終更新：2026-10-06
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集積度が上がるほど、外部ピンから内部の状態へ手が届かなくなる。数億のトランジスタに対して使えるピンは数百しかなく、順序回路では目的の内部状態へ持っていくだけで膨大な入力系列が要る。テストのために、回路の中へ制御しやすさ（可制御性）と観測しやすさ（可観測性）を作り込んでおくという発想の転換がDFTである。出荷試験の時間が単価へ直結する量産品では、これは品質の話であると同時に原価の話でもある。
具体例
スキャンパスでは、通常動作用のフリップフロップをテスト時だけ1本のシフトレジスタとしてつなぎ替え、任意の内部状態を外から書き込み、1クロック動かして結果を外へ吸い出す。これにより順序回路のテストを組合せ回路のテストへ落とし込める。基板レベルではJTAG（IEEE 1149.1）のバウンダリスキャンが同じ役割を果たし、はんだ不良の検出に使われる。
試験での引っ掛け
テスト回路の追加は面積と動作速度のオーバヘッドを伴うので、品質・テスト時間・コストのトレードオフとして判断する。またスキャンパスは内部状態を外から自由に読み書きできる経路でもあるため、鍵や機密を扱う回路では出荷時にヒューズで無効化するなど、テスト用の口を塞ぐ手当てが要る。テスト容易化と耐タンパ性は正面から対立する。
関連用語
出典・参考
解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。