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テスト密度・欠陥密度とは?てすとみつど・けっかんみつど

テスト密度・欠陥密度とは、いずれもプログラムの規模で割って比べるための品質指標で、テスト密度は規模あたりのテスト項目数、欠陥密度は規模あたりに検出されたバグ件数を指す。規模はキロステップや機能数で測る。規模で割るのは、大きいモジュールほど項目もバグも多いのが当たり前で、件数そのままでは他と比べられないためである。

最終更新:2026-10-07

試験情報

高度試験・午前I(全区分共通)の頻出用語/午前I(全区分共通)

別名:テスト密度、バグ密度

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背景

テストが十分かどうかは、実施した本人には分からない。そこで過去のプロジェクトの実績から基準値を作っておき、そこからどれだけ外れたかで異常を疑うという、間接的な測り方がとられた。単独の数値には良否がなく、判断は必ず基準値との差で行う——これが定量的品質管理の考え方である。午前I(科目A-1)ではマネジメント系の設問として、値の高低から原因を推定させる形で出る。

具体例

IPAの『ソフトウェア開発分析データ集』は業界横断の実績値を公開しており、社内実績が乏しい組織でも基準値の出どころとして使える。テスト密度が基準の半分なら項目の作り込み不足を疑い、追加のレビューに戻す。

試験での引っ掛け

欠陥密度は「基準値より低ければ良い」ではない。低すぎる場合はテストが甘くて不具合を掘り出せていない疑いがあり、上下どちらに外れても追加調査に入るのが正しい判断である。テスト密度と欠陥密度を組み合わせ、4つの象限のどれに落ちたかで原因を切り分ける。

関連用語

解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。

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試験での特徴
  • 分野:午前I(全区分共通)
  • 欠陥密度は「基準値より低ければ良い」ではない。