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ベン図とは?べんず

ベン図とは、複数の集合の関係を円の重なりで表した図。重なりが積集合(AND)、全体が和集合(OR)、円の外側が補集合(NOT)に対応するため、論理式の簡約、包除原理による個数計算、検索条件の設計を目で確かめる道具になる。

最終更新:2026-10-06

試験情報

応用情報技術者試験の過去問では1回出題され、ほかに2問の解説で触れられています(2018年度〜2021年度)。

応用情報技術者試験の頻出用語/テクノロジ系

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背景

変数が3つ4つと増えた論理式は、頭の中だけでは真理値の抜けや二重計上に気づけない。真理値表なら網羅はできるが、行が並ぶだけで「どの領域が重複して数えられているか」という全体の関係は見えてこない。ベン図は集合の包含と重なりを平面へ写し、この見落としを図形として検出させる。応用情報では条件式の簡約と、包除原理を使う個数計算の下敷きとして効いてくる。

具体例

応用情報の受験者200人を「基本情報の合格者150人」「情報系の学位を持つ人60人」の2円で描くと、重なりが両方に該当する人。両方が40人なら、包除原理で少なくとも一方に該当するのは150+60−40=170人、どちらでもないのは30人と求まる。

試験での引っ掛け

「AかつB」は重なり=積集合、「AまたはB」は和集合。ANDとORを取り違えると、絞り込むはずの条件が逆に広がる。否定が絡む式ではド・モルガンの法則で∧と∨が入れ替わる点、3集合の包除原理では三重の重なりを引きすぎて一度足し戻す点が定番の引っ掛け。

関連用語

出た過去問

問題文で直接問われたものと、解説の中で触れられたものが含まれます。

解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。

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試験での特徴
  • 試験では1回出題(2018年度〜2021年度)
  • 分野:テクノロジ系
  • 「AかつB」は重なり=積集合、「AまたはB」は和集合。