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テスト密度・欠陥密度とは?てすとみつど・けっかんみつど

テスト密度はプログラム規模あたりのテスト項目数、欠陥密度は規模あたりの検出バグ件数を表す品質管理の指標。単独では良否を判定できず、過去の実績から作った基準値と比べて「基準から離れた原因は何か」を追うために使う。上下どちらへ外れても調査対象になる点が要点。

最終更新:2026-10-06

試験情報

応用情報技術者試験の過去問では1回出題されています。

応用情報技術者試験の頻出用語/マネジメント系

別名:テスト密度、欠陥密度

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背景

テストが十分かどうかを担当者の感覚で判断していると、規模の大きい機能ほど検証が薄くなっても気づけない。規模で割って正規化すれば、機能どうし・案件どうしを比べられる共通の物差しになる。応用情報では数値を提示して「次に何をすべきか」を選ばせる形で問われるため、値の読み方まで押さえる必要がある。

具体例

IPAが公開するソフトウェア開発の実績データなどから基準値を作り、対象モジュールの実測と比べる。テスト密度が基準の半分ならテスト不足や設計漏れを疑い、欠陥密度が基準の2倍なら当該モジュールのレビューをやり直す、といった次の一手につなげる。

試験での引っ掛け

欠陥密度が基準より低ければ常に良い、という判断は誤り。テストが甘くて検出できていない可能性が同じだけあるため、必ずテスト密度と組み合わせて読む。テスト密度が高く欠陥密度が低ければ品質良好、テスト密度が低く欠陥密度も低ければテスト不足、という2軸の読み取りが出題の型になる。

関連用語

出た過去問

解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。

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試験での特徴
  • 試験では1回出題
  • 分野:マネジメント系
  • 欠陥密度が基準より低ければ常に良い、という判断は誤り。